0

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

152 руб.
Купить на сайте ЛитРес

Издатель: НОУ «МФПУ «Синергия»

Серия: Прикладная информатика. Научные статьи

Год выхода: 2014

ISBN:

Информация о книге:
страниц: ~0
знаков: ~0
Жанры: Математика, Программирование
Рейтинг: 0.000
Голосов: 0

Ваша оценка
Поделиться оценкой:
Поделиться с помощью Вконтакте Поделиться с помощью Facebook Поделиться с помощью Twitter
Добавлена: 30.06.2015
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Похожие книги

Отзывы читателей (0)

Подписаться на комментарии к этой книге