<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss version="2.0">
<channel>
<title>Марков А. П.  -Портал SamoLit.com</title>
<link>https://samolit.com/authors/20809/</link>
<description>СамоЛит - сайт независимых авторов</description>
<lastBuildDate></lastBuildDate>
<image>
<url>https://samolit.com/gif/samolit_logo.png</url>
<link>https://samolit.com</link>
<title>Портал SamoLit.com</title>
</image>
<item>
<title>А. П. Марков &amp;laquo;Дистанционная дефектоскопия контурных поверхностей&amp;raquo; - Книги на SamoLit.com</title>
<link>https://samolit.com/books/66707/</link>
<description><![CDATA[ В монографии обобщены результаты исследований и разработок лабораторных и промышленных визуаскопов, автоматизированных средств дистанционной дефектоскопии сложноконтурных протяженных изделий на основе оптических, оптико-волоконных и оптико-электронных преобразований информативных излучений. Рассмотрены информационно-физические основы методов и средств дистанционной дефектоскопии наружных и внутренних поверхностей с учетом комбинированных преимуществ комплексных преобразований первичных признаков формирующихся отклонений в пространственно-временном поле нормированных допусков. Представлены информационно-технологические модели и характеристики пространства состояний и свойств элементов поверхности, предложены способы, средства и технологии интер– и интроскопии плоских и объемных зон изделий с изменяющимися профилями.  Предназначена для исследователей, испытателей и инженеров, занимающихся разработкой способов и технологий неразрушающего контроля а также студентов, магистрантов и аспирантов инженерных и приборостроительных специальностей. ]]></description>
<author>А. П. Марков</author>
<pubDate>Tue, 30 Jun 2015 15:10:00 +0000</pubDate>
</item><item>
<title>А. П. Марков &amp;laquo;Оптико-волоконное скопирование в литье и металлургии&amp;raquo; - Книги на SamoLit.com</title>
<link>https://samolit.com/books/66570/</link>
<description><![CDATA[ В монографии систематизированы способы оптического скопирования внутренних зон, нагретых поверхностей и расплавов, применение которых представляется целесообразным при совершенствовании литейного производства и металлургии. Собрана и обширно представлена элементная база волоконной оптики, электронной, оптоэлектронной и видеотехники, ориентированная на системное решение задач визуализации полей различной физической природы, характерных для литейного производства.  Рассмотрены операционные особенности информационно-преобразовательного процесса технологического контроля, структура оптико-волоконного скопирования, модели, способы и технологии оптической термоскопии с учетом специфики информационно-физических преобразований и дистанцирования оптической информации. Особое внимание уделено спектрально-энергетическим преобразованиям первичной информации оптическими светопроводящими волокнами и структурам систем переноса и формирования оптических изображений на их основе.  Предназначена для инженеров, технологов и исследователей, занимающихся технологиями и разработкой новых конструкций и изделий. Может быть полезна работникам лабораторий и отделов технического контроля, служб качества и диагностики, а также студентам, магистрантам и аспирантам инженерных и технологических специальностей. ]]></description>
<author>А. П. Марков</author>
<pubDate>Tue, 30 Jun 2015 15:10:00 +0000</pubDate>
</item><item>
<title>А. П. Марков &amp;laquo;Световодные способы и технологии комбинированной дефектоскопии&amp;raquo; - Книги на SamoLit.com</title>
<link>https://samolit.com/books/68160/</link>
<description><![CDATA[ Представлены результаты исследований и разработок по неразрушающему контролю на основе структурно-алгоритмических комбинаций операционных преобразований и дистанцирования первичной информации оптико-волоконными элементами и системами.  На математических и физических моделях и конструкциях преобразователей и мобильных приборов оперативного контроля отражены операционные и функциональные преимущества оптико-волоконных элементов в комбинированных способах и средствах трансформации технологических признаков зарождающихся дефектов и соответствующих источников информации.  Предназначена для инженеров, технологов, исследователей и испытателей, занимающихся разработкой технологий и новых конструкций в различных отраслях, а также студентов, магистрантов, бакалавров и аспирантов инженерных и приборостроительных специальностей. ]]></description>
<author>А. П. Марков</author>
<pubDate>Tue, 30 Jun 2015 15:10:00 +0000</pubDate>
</item>
</channel>
</rss>